用于估定地下地层中温度的方法专利登记公告

专利名称：用于估定地下地层中温度的方法

摘要：本发明描述了一种用于估定地下地层中开口内的温度的方法。该方法可包括：沿着位于开口中的绝缘导体的长度估定一个或多个介电特性，以及基于所估定的一个或多个介电特性而沿着绝缘导体长度估定一个或多个温度。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080052180.8

专利申请（专利权）人：国际壳牌研究有限公司

专利发明（设计）人：D·阿罗拉;R·M·巴斯;D·B·伯恩斯;E·E·德圣里米;E·A·格苏阿尔迪;S·V·源;S·T·汤普森

主权项：一种用于估定地下地层中开口内的温度的方法，所述方法包括：沿着位于开口中的绝缘导体的长度估定一个或多个介电特性；以及基于所估定的一个或多个介电特性而沿着绝缘导体的所述长度估定一个或多个温度。

专利地区：荷兰