光拾取装置专利登记公告

专利名称：光拾取装置

摘要：本发明提供一种光拾取装置，其能够对由设在双波长激光二极管上的第1激光元件与第2激光元件之间的位置偏移为起因而产生的、设于光检测器的受光部的位置偏移进行修正。其中，该光拾取装置具有光检测器，该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部（8D），利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置，并且在第2受光部（8D）上形成有用于对第1受光部与第2受光部（8D）的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080052638.X

专利申请（专利权）人：三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社

专利发明（设计）人：堀田彻;川崎良一

主权项：一种光拾取装置，其包括：双波长激光二极管，其在同一个封装体内设有用于放射第1激光的第1激光元件和用于放射波长小于该第1激光波长的第2激光的第2激光元件；物镜，其供自该双波长激光二极管放射的第1激光和第2激光入射并且使第1激光会聚到设于第1光盘的信号记录层上，并且使第2激光会聚到设于与上述第1光盘格式不同的第2光盘的信号记录层上；其特征在于，该光拾取装置具有光检测器，该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部

专利地区：日本