不合格原因的分析显示方法及不合格原因的分析显示装置专利登记公告

专利名称：不合格原因的分析显示方法及不合格原因的分析显示装置

摘要：计算装置16基于对每个产品累计产品的生产数据和检查数据而得的代表值来对发生不合格的不合格原因进行分析。显示装置17对从分析结果提取出的数据项目，使用利用统计方法的计算，来从成为分析对象的多个代表值之中，选择成为代表值的基础的生产数据和检查数据，并加以显示。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080053327.5

专利申请（专利权）人：夏普株式会社

专利发明（设计）人：清水　一寿

主权项：一种不合格原因的分析显示方法，其特征在于，包括：从生产工艺获取由该生产工艺所制造的产品中的具有多个数据项目的生产数据、并从检查工艺获取由所述生产工艺所制造的产品中的具有多个数据项目的检查数据的工序；基于所述生产数据和所述检查数据、来对每个所述产品计算所述生产数据和所述检查数据之中的至少一个数据的代表值的工序；基于所述所计算出的代表值、来分析所述产品发生不合格的不合格原因的工序；以及对于作为不合格原因而通过所述不合格原因的分析所提取出的所述数据项目、来显示成为计算与该数据项目相关的代表值的基础的所述至少一个

专利地区：日本