有源矩阵基板的检查方法专利登记公告

专利名称：有源矩阵基板的检查方法

摘要：一种具备扫描线（12）、数据线（11）、矩阵状的发光像素（1a）和电源线（19）的有源矩阵基板的检查方法，发光像素（1a）具备：有机EL元件（13）；驱动晶体管（14）；电容器（15）；选择晶体管（16和17），其连接在数据线（11）与驱动晶体管（14）的栅极之间，且其栅极连接于扫描线（12）；以及保护电位用晶体管（18），其栅极连接于选择晶体管（16）的源极，源极连接于选择晶体管（16）的漏极，漏极连接于电源线（19），检查方法包括：写入步骤（S11），对电容器（15）写入电荷；读出步骤（S13），从电

专利类型：发明专利

专利号：CN201080056953.X

专利申请（专利权）人：松下电器产业株式会社

专利发明（设计）人：田鹿 健一;白水 博

主权项：一种有源矩阵基板的检查方法，所述有源矩阵基板具备多条扫描线、多条数据线、在所述多条扫描线的各条与所述多条数据线的各条交叉的每个交叉部配置的多个发光像素、以及对所述多个发光像素供给电流的电源线，所述多个发光像素各自具备：发光元件，其通过流动与经由所述多条数据线之一的数据线供给的数据电压相应的驱动电流来发光；驱动晶体管，其连接在所述电源线与所述发光元件之间，根据施加于栅电极的电压将所述数据电压转换成所述驱动电流；电容器，其一方的电极连接于所述驱动晶体管的栅电极，保持与所述数据电压相应的电压；第1晶体管，其栅电

专利地区：日本