用于检测并测量高性能装置封装中的环境条件的方法和装置专利登记公告
专利名称：用于检测并测量高性能装置封装中的环境条件的方法和装置
摘要：一种环境条件感测装置(800)包含具有光学特性的干涉式调制器，所述光学特性响应于暴露于预定环境阈值或条件而改变。所述装置包含环境反应层(804)，所述环境反应层响应于暴露于预定环境阈值或条件而以光学可检测的方式更改组分。
专利类型：发明专利
专利号：CN201080057440.0
专利申请（专利权）人：高通MEMS科技公司
专利发明（设计）人：约恩·比塔
主权项：一种环境条件监视装置，其包括：环境反应层，其具有一组分，所述环境反应层的所述组分经配置以响应于对环境条件的暴露而更改；以及干涉式调制器，所述干涉式调制器的反射率谱随所述环境反应层的所述组分而变。
专利地区：美国
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