使用反卷积和窗的精确波形测量专利登记公告

专利名称：使用反卷积和窗的精确波形测量

摘要：本发明包括构建测量矩阵(MM)的新方法，该方法包括数字傅立叶变换DFT的时间反卷积。此外，可使用特别地设计成便于时间反卷积的窗函数，和/或可以特定的非周期方式执行DFT以减少人为现象并进一步便于反卷积。这些反卷积的DFT可单独使用或与其它DFT相互关联以产生MM。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080058046.9

专利申请（专利权）人：保罗－里德－史密斯－吉塔尔斯股份合作有限公司

专利发明（设计）人：J·W·史密斯（死亡）;P·R·史密斯;F·M·斯莱

主权项：一种形成输入信号的时间、频率和幅度的矩阵的方法，该方法包括：从数据存储器或根据从模拟源接收或被物理模拟设备捕获的物理模拟信号的转换获得以数字波形信号的形式的输入信号；在时间上将所述输入信号转换至频域；对转换出的信号进行时间反卷积；以及创建反卷积出的信号的测量矩阵。

专利地区：美国