气体分析装置专利登记公告

专利名称：气体分析装置

摘要：本发明提供气体分析装置，能不受校准用气体供给管道中的校准用气体劣化的影响地进行校准。所述气体分析装置包括开关机构控制部（61），该开关机构控制部（61）接收指示开始零点校准和量程校准的校准开始信号，控制校准用气体流路（3）的开关机构（31）和零点气体流路（2）的开关机构（21），当开关机构控制部（61）从进行了上次的校准起经过了规定时间后接收到新的校准开始信号时，开关机构控制部（61）通过控制校准用气体流路（3）的开关机构（31），使得在量程校准开始前，在规定时间内使校准用气体流路（3）的开关机构（31）

专利类型：发明专利

专利号：CN201080059301.1

专利申请（专利权）人：株式会社堀场制作所

专利发明（设计）人：宫井优;西川雅浩

主权项：一种气体分析装置，其特征在于包括：气体分析仪，分析试样气体中含有的测量对象成分；校准用气体流路，能将来自校准用气体供给源的校准用气体导入所述气体分析仪，在该校准用气体流路上设有开关机构；零点气体流路，能将来自零点气体供给源的零点气体导入所述气体分析仪，在该零点气体流路上设有开关机构；以及开关机构控制部，接收校准开始信号，控制所述校准用气体流路的开关机构和所述零点气体流路的开关机构，所述校准开始信号指示开始零点校准和量程校准，其中，当所述开关机构控制部从进行了上次的校准起经过了规定时间以后接收到新的校准开始

专利地区：日本