微阵列的检测方法专利登记公告

专利名称：微阵列的检测方法

摘要：本发明的目的在于提供一种客观地判定每个微阵列的性能退化或清洗不充分等以及杂交失败的方法，具体而言，涉及一种使用微阵列检测探针多核苷酸和靶多核苷酸的杂交的方法，包含1)使具有分别添加多种探针多核苷酸的多个固定的检测用点、及一处以上的固定有两种以上固定于检测用点上的探针多核苷酸的基准点的微阵列与荧光标记的靶多核苷酸接触的工序，2)通过清洗微阵列除去未反应的靶多核苷酸的工序，3)测定基准点上的荧光，若满足规定值则判断为可测定的工序，及4)若判断为可测定，则测定固定有探针多核苷酸的各检测用点上的荧光的工序。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080059469.2

专利申请（专利权）人：东洋钢钣株式会社

专利发明（设计）人：山野博文;平山幸一;伊藤茜

主权项：一种使用微阵列检测探针多核苷酸和靶多核苷酸的杂交的方法，包含：1)使具有分别添加多种探针多核苷酸的多个固定的检测用点、及一处以上的固定有两种以上固定于检测用点上的探针多核苷酸的基准点的微阵列与荧光标记的靶多核苷酸接触的工序；2)通过清洗微阵列除去未反应的靶多核苷酸的工序；3)测定基准点上的荧光，若满足规定值则判断为可测定的工序；及4)若判断为可测定，则测定固定有探针多核苷酸的各检测用点上的荧光的工序。

专利地区：日本