反射密度计专利登记公告

专利名称：反射密度计

摘要：公开了一种用于确定光密度的方法。在基底的白色区域上进行第一测量(402)。在用油墨印刷的所述基底的区域上进行第二测量(404)。使用所述第一测量和第二测量来确定所述油墨的相对光密度(406)。

专利类型：发明专利

专利号：CN201080060827.1

专利申请（专利权）人：惠普发展公司，有限责任合伙企业

专利发明（设计）人：H.比雷基;W.D.霍兰;O.吉拉

主权项：一种方法，包括：在基底的白色区域上进行第一光密度(OD)测量(402)；在用油墨印刷的所述基底的区域上进行第二OD测量(404)；使用所述第一测量和第二测量来确定所述油墨的相对OD?(406)，通过将所述油墨的所述相对OD加到所述基底的绝对OD来确定所述油墨的绝对OD?(408)。

专利地区：美国