一种用透射电子显微镜观察无机高分子材料超微结构的方法专利登记公告

专利名称：一种用透射电子显微镜观察无机高分子材料超微结构的方法

摘要：本发明属高分子材料技术领域，涉及一种用透射电子显微镜观察无机高分子材料超微结构的方法。本方法包括步骤：将高分子材料放入纯乙醇或纯丙酮溶液中，浸透8小时后；再放入乙醇或者丙酮与环氧树脂混合液中2～7天后；置37℃～45℃的烘箱烘烤11～24小时，排除乙醇或者丙酮气体，使高分子材料保存在纯环氧树脂里；加纯环氧树脂至包埋块的需用量，固化24小时。本发明方法能解决长期以来高分子材料包埋后无法或很难获得完整的超薄切片的难题，为高分子材料颗粒内部的物理模型的三维重建起到了积极的作用。本发明方法还用于其它领域的研究，在

专利类型：发明专利

专利号：CN201110008025.2

专利申请（专利权）人：复旦大学

专利发明（设计）人：高鸿建;法京;齐玲;李立;彭慧胜;俞章

主权项：一种用透射电子显微镜观察无机高分子材料超微结构的方法，其特征在于，其包括步骤：⑴将高分子材料放入纯乙醇或者纯丙酮溶液中，浸透8小时；⑵将高分子材料放入乙醇或者丙酮与环氧树脂混合液中2～7天；⑶将高分子材料放到温度为37℃～45℃的烘箱中，烘烤11～24小时，排除乙醇或者丙酮气体，使高分子材料保存在纯环氧树脂里；⑷加纯环氧树脂至包埋块的需用量，固化24小时。

专利地区：上海