基于智能卡片上flash串行测试接口时序的实现方法专利登记公告

专利名称：基于智能卡片上flash串行测试接口时序的实现方法

摘要：本发明提供一种基于智能卡片上flash串行测试接口时序的实现方法，通过定义智能卡管脚到片上flash的串并转换关系，针对不同的flash供应商可实现串行测试接口时序通用的目的。实现步骤包含：数据、地址和控制信号按组定义不同的处理顺序和处理方式；将数据、地址和控制信号组成ADC、ACD、DC、CD四种工作模式；ADC模式同DC模式组合，完成成组写入操作；ACD模式同CD模式组合，完成成组读出操作。本发明提供的时序实现方法简单清晰，参考其提供的时序开发的flash串行测试接口电路在芯片中占用的面积小，能够最大

专利类型：发明专利

专利号：CN201110025531.2

专利申请（专利权）人：上海华虹集成电路有限责任公司

专利发明（设计）人：王彩红

主权项：基于智能卡片上flash串行测试接口时序的实现方法，其特征在于包含以下实现步骤：(1)数据、地址和控制信号按组定义不同的处理顺序和处理方式；(2)将数据、地址和控制信号组成ADC、ACD、DC、CD?4种工作模式；(3)ADC模式同DC模式组合，完成成组写入操作；(4)ACD模式同CD模式组合，完成成组读出操作；

专利地区：上海