盖合检测电路、掀盖式电子装置及盖合检测方法专利登记公告

专利名称：盖合检测电路、掀盖式电子装置及盖合检测方法

摘要：一种盖合检测电路，适用于一掀盖式电子装置，以检测掀盖式电子装置的第一本体及第二本体是否互相盖合。盖合检测电路包含一控制单元、一光信号产生元件、一光信号接收元件及一判别元件。光信号产生元件及光信号接收元件分别设置于第一本体及第二本体。控制单元产生致能信号，光信号产生元件接收致能信号而产生光学编码信号。光信号接收元件接收外界光信号并转换为一待测信号；判别元件判别待测信号是否在光学编码信号的容错范围内，并于判别待测信号在该光学编码信号的容错范围内后发出一盖合信号至掀盖式电子装置。透过判别待测信号的内容，避免外界

专利类型：发明专利

专利号：CN201110026347.X

专利申请（专利权）人：神基科技股份有限公司

专利发明（设计）人：王先佑

主权项：一种盖合检测电路，适用于一掀盖式电子装置，其中该掀盖式电子装置具有一第一本体及一第二本体，该第二本体枢接于该第一本体，而可选择地相对于该第一本体转动以盖合于该第一本体；该盖合检测电路包含：一控制单元，其产生一致能信号；一光信号产生元件，设置于该第一本体，接收该致能信号而产生光学编码信号；一光信号接收元件，设置于该第二本体，接收外界光信号并转换为一待测信号；一判别元件，取得该光信号接收元件的待测信号，且判别该待测信号是否在该光学编码信号的容错范围内，并于判别该待测信号在该光学编码信号的容错范围内后发出一盖合

专利地区：台湾