自动光学检测装置及方法专利登记公告

专利名称：自动光学检测装置及方法

摘要：本发明公开了一种自动光学检测装置及方法，该装置包括一图像获取单元及一图像处理单元，该图像获取单元用于相对于一受检电路板进行步进式的二维扫描移动，每次步进之后均对该受检电路板进行一次拍照，各次拍照获取的图像之和覆盖该受检电路板的完整表面，该图像处理单元用于将各次拍照获取的图像无缝拼接为该受检电路板的完整图像，并将拼接获得的该完整图像与该受检电路板的设计标准进行图像差异分析，以检测该受检电路板的外观缺陷。本发明能够获得受检电路板的完整图像，从而能够对受检电路板进行全方位的精确检测。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110062734.9

专利申请（专利权）人：上海赫立电子科技有限公司

专利发明（设计）人：程克林

主权项：一种自动光学检测装置，其包括一图像获取单元及一图像处理单元，其特征在于，该图像获取单元用于相对于一受检电路板进行步进式的二维扫描移动，每次步进之后均对该受检电路板进行一次拍照，各次拍照获取的图像之和覆盖该受检电路板的完整表面，该图像处理单元用于将各次拍照获取的图像无缝拼接为该受检电路板的完整图像，并将拼接获得的该完整图像与该受检电路板的设计标准进行图像差异分析，以检测该受检电路板的外观缺陷。

专利地区：上海