一种基于轮廓模板匹配的误检样本去除方法专利登记公告

专利名称：一种基于轮廓模板匹配的误检样本去除方法

摘要：本发明涉及一种基于轮廓模板匹配的误检样本去除方法，包括以下步骤：1)图像采集模块采集原始图像样本集信息，并将该原始图像样本集信息发送给处理器；2)处理器采用Haar检测算法对原始图像样本集进行检测；3)处理器采用强分类器对步骤2)的检测结果进行分类，将误检样本去除；4)显示器显示去除误检样本后的最终检测结果。与现有技术相比，本发明具有极大的降低Haar检测算法的误检率等优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110066249.9

专利申请（专利权）人：同济大学

专利发明（设计）人：李宏宇;陈雷

主权项：一种基于轮廓模板匹配的误检样本去除方法，其特征在于，包括以下步骤：1)图像采集模块采集原始图像样本集信息，并将该原始图像样本集信息发送给处理器；2)处理器采用Haar检测算法对原始图像样本集进行检测；3)处理器采用强分类器对步骤2)的检测结果进行分类，将误检样本去除；4)显示器显示去除误检样本后的最终检测结果。

专利地区：上海