一种超材料单元结构电磁特性测量方法和装置专利登记公告

专利名称：一种超材料单元结构电磁特性测量方法和装置

摘要：本发明提供一种超材料单元结构电磁特性测量方法，其中单元结构由一组几何参数来定义，方法包括以下步骤：S1：预设几何参数的数值范围；S2：在预设的数值范围内，选择多个试验点，每个试验点包括一组几何参数；S3：获取各个试验点对应单元结构的电磁响应特性数据；S4：连接各个试验点所对应的电磁响应特性数据，得初始响应曲线；S5：对初始响应曲线进行平滑处理得到最终响应曲线。本发明还提供一种超材料单元结构电磁特性测量装置实现上述方法，大大促进了单元结构的大规模自动化设计。本发明常运用于超材料领域。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110066503.5

专利申请（专利权）人：深圳光启高等理工研究院;深圳光启创新技术有限公司

专利发明（设计）人：刘若鹏;栾琳;赵治亚;刘斌

主权项：一种超材料单元结构电磁特性测量方法，所述单元结构由一组几何参数来定义，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S1：预设所述几何参数的数值范围；S2：在预设的数值范围内，选择多个试验点，每个试验点包括一组几何参数；S3：获取各个试验点对应的超材料单元结构的电磁响应特性数据，所述电磁响应特性数据由多个离散的数据点构成；S4：连接所述各个试验点所对应的电磁响应特性数据，得到各个试验点的初始电磁响应曲线；S5：对所述初始电磁响应曲线进行平滑处理得到最终电磁响应曲线。

专利地区：广东