一种线不良的测试方法以及液晶显示器专利登记公告

专利名称：一种线不良的测试方法以及液晶显示器

摘要：本发明实施例提供一种线不良的测试方法以及液晶显示器，涉及液晶显示器技术，为提高对TFT-LCD产品进行不良性测试的准确性而发明。一种线不良的测试方法，包括：确定待测试数据线以及与所述待测试数据线位于液晶面板上同一覆晶薄膜下的基准测试数据线；将所述待测试数据线和所述基准测试数据线连接形成测试回路；利用印制电路板上与所述基准测试数据线对应的测试点对所述测试回路进行测试，以确定所述待测试数据线的信号是否正常。本发明实施例主要用于对TFT-LCD产品的不良性测试中。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110072550.0

专利申请（专利权）人：北京京东方光电科技有限公司

专利发明（设计）人：徐超;赵晶

主权项：一种线不良的测试方法，其特征在于，包括：确定待测试数据线以及与所述待测试数据线位于液晶面板上同一覆晶薄膜下的基准测试数据线；将所述待测试数据线和所述基准测试数据线连接形成测试回路；利用印制电路板上与所述基准测试数据线对应的测试点对所述测试回路进行测试，以确定所述待测试数据线的信号是否正常。

专利地区：北京