采用功耗分析检测FPGA芯片中恶意电路的方法及其系统专利登记公告

专利名称：采用功耗分析检测FPGA芯片中恶意电路的方法及其系统

摘要：本发明公开了一种采用功耗分析检测FPGA芯片中恶意电路的系统，它包括：直流稳压电源，给被测FPGA芯片和施加激励FPGA芯片提供直流电源；电流探头，测量被测FPGA芯片电源端的瞬态电流；示波器，在被测FPGA芯片生成的触发信号的触发下，采集电流探头测量到的电流信号；施加激励FPGA芯片，给被测FPGA芯片施加激励信号，并将被测FPGA芯片的响应信号传输至计算机中，以备与预期响应进行比较校验；计算机，接收用户编写的激励约束，产生测试向量，并完成响应校验、示波器设置、波形数据收集、数据分析与处理工作。本发明还

专利类型：发明专利

专利号：CN201110259418.0

专利申请（专利权）人：工业和信息化部电子第五研究所

专利发明（设计）人：王力纬;罗宏伟

主权项：一种采用功耗分析检测FPGA芯片中恶意电路的系统，其特征在于，它包括：直流稳压电源，给被测FPGA芯片和施加激励FPGA芯片提供直流电源；电流探头，测量被测FPGA芯片电源端的瞬态电流；示波器，在被测FPGA芯片生成的触发信号的触发下，采集电流探头测量到的电流信号；施加激励FPGA芯片，给被测FPGA芯片施加激励信号，并将被测FPGA芯片的响应信号传输至计算机中，以备与预期响应进行比较校验；计算机，接收用户编写的激励约束，产生测试向量，并完成响应校验、示波器设置、波形数据收集、数据分析与处理工作。

专利地区：广东