一种互补金属氧化物半导体时间延迟积分式感测器专利登记公告

专利名称：一种互补金属氧化物半导体时间延迟积分式感测器

摘要：本发明公开一种由M个像素所构成的互补金属氧化物半导体(CMOS)时间延迟与积分(TDI)式影像感测器，各像素是由一行N个时间延迟与积分级所形成。各时间延迟与积分级包括：一光二极管，其收集光电荷；以及一前置放大器，其将光电荷依比例地转换成电压。各时间延迟与积分级亦包含一组电容器、放大器、以及开关用于储存积分信号电压，而相关双取样与维持(CDS)技术(真实或拟似)同时维持光信号与重设电压。此互补金属氧化物半导体时间延迟与积分结构特别有利于执行X光扫瞄侦测器系统，其须要大尺寸像素与信号处理电路，并可使信号处理电

专利类型：发明专利

专利号：CN201110266773.0

专利申请（专利权）人：X-SCAN映像股份有限公司

专利发明（设计）人：王勤立;李世祖

主权项：一种互补金属氧化物半导体时间延迟与积分式感测器，其特征在于，包括：一积分与加总放大器，其具有一积分输入端子、可以与所述积分输入端子接合或分开的一加总输入端子、一输出端子、一积分电容器、以及一重设开关；一光侦测器，连接至所述积分与加总放大器的所述积分输入端子；一加总电容器，其第一电极连接至前一时间延迟与积分级的输出，且其第二电极连接至所述积分与加总放大器的所述加总输入端子；一相关双取样与维持电路，其包括多个开关与多个储存电路，所述相关双取样与维持电路具有一输入端子连接至所述积分与加总放大器的所述输出端子，且

专利地区：美国