用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法专利登记公告

专利名称：用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法

摘要：本发明涉及一种用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法，把所配的量化相位PM(i)与所需相位PMG(i)之差PE(i)，加权移位累积到下一单元所需相位中，生成新的所需相位，依次类推直到最后一个单元的配相方法。这种配相结果使波束指向与目标值良好逼近。与现有方法相比，本发明方法简单，实时性好，能够有效提高天线的指向精度，降低波束的副瓣电平。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110291438.6

专利申请（专利权）人：中国兵器工业第二〇六研究所

专利发明（设计）人：赵交成;付原;张军;赵迎超

主权项：一种用于一维相扫阵列天线的误差累积移位加权的配相方法，天线型式是一维相扫阵列天线，其特征在于步骤如下：步骤1：采集各天线单元自身的固有相位值PS(i)，i＝1，2...n；其中：i为天线的单元数；步骤2：计算波束指向各单元的理论相位值为PG(i)＝k(i?1)dsinθ，其中：i＝1，2...n；k＝2π/λ，λ工作频率的波长；d单元间距；θ波束扫描指向角步骤3：将固有相位值与理论相位值做差：PMG(i)＝PG(i)?PS(i)；步骤4：得到各单元的配相码为M(i)＝int(p(i)/S)，其中：S＝36

专利地区：陕西