检查装置和方法专利登记公告

专利名称：检查装置和方法

摘要：本发明提供一种尽管在电源电压的上升期间也能够对检查对象电路是否正常地发挥功能高精度地进行检查的半导体集成电路、检查装置和方法。将检查装置（10）构成为包含：复位控制电路（14），在从POR电路（102）的输出端子（102C）向第一输入端子（14A）输入复位信号时，从输出端子（14C）开始与复位信号相同电平的复位执行信号的输出，在从控制装置（18）的输出端子向第二输入端子（14B）输入触发信号时，结束复位执行信号的输出，从输出端子（14C）开始输出与复位解除信号相同电平的解除执行信号；以及测试器（124），

专利类型：发明专利

专利号：CN201110311322.4

专利申请（专利权）人：拉碧斯半导体株式会社

专利发明（设计）人：藤本秀一郎

主权项：一种检查装置，其中，包含：触发输出单元，输出触发信号；信号输出单元，具备：第一端子，与在被施加直流电压时输出第一电平转变信号的检查对象电路的输出端子连接，所述第一电平转变信号是表示用于对逻辑电路进行初始化的电平的初始化电平利用该直流电压的上升转变成表示用于解除该逻辑电路的初始化状态的电平的初始化解除电平的信号；第二端子，与所述触发输出单元的输出端子连接；以及第三端子，与所述逻辑电路的输入端子连接，所述信号输出单元根据从所述检查对象电路的输出端子输入到所述第一端子的所述初始化电平的所述第一电平转变信号，从所

专利地区：日本