基于EMI噪声分析的GTEM小室校准及评估方法专利登记公告
专利名称：基于EMI噪声分析的GTEM小室校准及评估方法
摘要：本发明公开了基于EMI噪声分析的GTEM小室校准及评估方法，属于电磁兼容技术领域。该方法提出一种GTEM小室辐射电磁干扰噪声提取的多项式模型，分析该模型计算数据与标准数据差值的方差对该模型进行误差补偿，从而对GTEM小室进行校准，并基于高阶矩分析的方法对该校准方法进行评估。本发明所述基于EMI噪声分析的GTEM小室校准及评估方法简便、快速、实用性高，能够提高GTEM小室辐射电磁干扰测量精度。
专利类型：发明专利
专利号：CN201110349573.1
专利申请（专利权）人：东南大学
专利发明（设计）人：褚家美;戎融
主权项：一种基于EMI噪声分析的GTEM小室的校准方法，其特征在于包括如下步骤：1)提取GTEM小室辐射电磁干扰噪声的多项式模型：远场中，辐射电场强度的大小表示为：
专利地区：江苏
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