热障涂层孔隙率的微波相位检测方法专利登记公告

专利名称：热障涂层孔隙率的微波相位检测方法

摘要：本发明涉及微波反射系数相位法对热障涂层孔隙率的测量方法，属于微波无损检测技术领域。本发明利用微波网络分析仪对热障涂层的微波反射系数的相位和幅值进行检测，根据相关的公式计算出热障涂层的孔隙率，建立微波信号反射系数相位与热障涂层孔隙率的关系，从而利用微波反射系数相位表征热障涂层的孔隙率。本方法为无损检测方法，可以对热障涂层进行非破坏、无污染检测。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110351262.9

专利申请（专利权）人：北京工业大学

专利发明（设计）人：何存富;杨玉娥;吴斌

主权项：热障涂层孔隙率的微波相位检测方法，其特征在于：所述的检测方法步骤如下：a、利用微波网络分析仪测量热障涂层的反射系数幅值A和相位φ，所测量的同组热障涂层的厚度d相同；b、根据反射系数幅值的计算公式和反射系数相位的计算公式计算出反射系数Γ；其中，A为反射系数幅值；φ为反射系数相位；Γ为反射系数；c、根据反射系数Γ的计算公式关系阻抗η的计算公式相位常数k的计算公式计算出热障涂层的介电常数ε；其中，Γ为反射系数；η为热障涂层的波阻抗；k为相位常数；d为热障涂层厚度；η0为自由空间的波阻抗；μ0为自由空间的磁导率；

专利地区：北京