衍射仪专利登记公告

专利名称：衍射仪

摘要：本发明涉及衍射仪及其使用方法。一种小型粉末衍射仪具有被布置为与用于安装粉末样品(14)的样品台(17)不大于300mm(在一个例子中，55mm)的一个或多个检测器(18)。尽管尺寸小，但是使用这样的几何结构仍然获得高分辨率：该几何结构实现了入射在样品(14)上的X射线的适当的发散和在单色仪晶体(12)上的使用掠出射条件的小斑点尺寸。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110368861.1

专利申请（专利权）人：帕纳科有限公司

专利发明（设计）人：P·菲维斯特

主权项：一种用于测量粉末样品的衍射仪，包括：用于保持粉末样品的样品台(17)；用于发射X射线束(6)的X射线源(2)；具有衍射表面的单色仪晶体(12)，被布置为将单色X射线束以与衍射表面成小于5°的掠出射角向着样品台衍射，以在样品台处具有小于60μm的斑点宽度；至少一个检测器晶体(18)，用于测量同时以多个衍射角从粉末样品衍射的X射线的强度；以及处理装置(24)，用于从测量的X射线计算衍射图案。

专利地区：荷兰