一种优化综合孔径阵构型的方法专利登记公告

专利名称：一种优化综合孔径阵构型的方法

摘要：本发明公开了一种优化新型综合孔径阵构型的方法。综合孔径阵成像技术是实现极高分辨率天文观测的有效手段，对研究宇宙中一些天体如活动星系核、X射线双星等起着至关重要的作用；综合孔径阵的构型直接影响着成像的质量，因此构型的优化设计对建设大型的综合孔径阵十分关键。本优化方法首次将库伦场的概念引入到优化设计中，库伦力的作用促使阵构型向优化的方向演化，通过设置额外的耗散力，最终得到最优化的阵构型。库伦场的引入使得阵构型的优化设计更为精确，并大大降低优化的计算量。另外，本优化方法首次将势能作为评价综合孔径阵构型优劣的指标

专利类型：发明专利

专利号：CN201110405375.2

专利申请（专利权）人：中国科学院国家天文台;清华大学

专利发明（设计）人：苏彦;周建峰

主权项：一种优化综合孔径阵构型的方法，其特征在于，所述综合孔径阵具有N个望远镜单元，所述N个望远镜单元具有N*(N?1)个u?v点，其中，每个望远镜单元对应2*(N?1)个u?v点，该方法包括以下步骤：为所述具有N个望远镜单元的综合孔径阵随机设置一初始构型；使用一个带电粒子来表示所述N*(N?1)个u?v点中的每一个；计算得到每个u?v点所受到的库伦力Fi，j，其中Fi，j表示第i个望远镜单元与第j个望远镜单元对应的u?v点所受的库伦力；根据所述每个u?v点所受到的库伦力Fi，j计算得到每一个望远镜单元所受到的库

专利地区：北京