电源装置、其控制方法以及使用它们的测试装置专利登记公告

专利名称：电源装置、其控制方法以及使用它们的测试装置

摘要：本发明提供一种能够对半导体器件稳定供给电源的电源装置、其控制方法以及使用它们的测试装置。负载电容(CL)与被测试器件(DUT1)的电源端子连接。电流检测部(30)检测从电源装置(100)输出的输出电流(Iout)。非线性控制部(20)控制其输出量(Sout2)，以使得在从流入被测试器件(DUT1)的电源端子的负载电流(IL)发生变动的第1定时到负载电流(IL)与输出电流(Iout)一致的第2定时为止的第1期间负载电容(CL)充放电的电荷量，与在从第2定时到结束控制的第3定时为止的第2期间负载电容(CL)充

专利类型：发明专利

专利号：CN201110415467.9

专利申请（专利权）人：株式会社爱德万测试

专利发明（设计）人：清水贵彦;出川胜彦

主权项：一种电源装置，经由电源线向在电源端子连接有电容器的半导体器件供给电力，其特征在于，该电源装置包括：电流检测部，检测从所述电源装置输出的输出电流；非线性控制部，控制其输出量，以使在第1期间所述电容器充放电的电荷量与在第2期间所述电容器充放电的电荷量平衡，所述第1期间是从流入所述半导体器件的电源端子的负载电流发生变动的第1定时到所述负载电流与所述输出电流一致的第2定时为止的期间，所述第2期间是从所述第2定时到结束控制的第3定时为止的期间。

专利地区：日本