场效应管阈值电压漂移测量方法专利登记公告

专利名称：场效应管阈值电压漂移测量方法

摘要：本发明公开了一种场效应管阈值电压漂移测量方法，涉及场效应管电学特性测量技术领域，该方法包括步骤：在所述场效应管栅极施加恒定栅偏压Vstress一段时间后，不撤去Vstress，对栅极和漏极分别施加测量信号Vgm和Vdm，得到漏极电流-栅极电压转移特性曲线；将所述转移特性曲线与未加栅偏压Vstress时分别对栅极和漏极施加测量信号Vgm和Vdm测得的初始转移特性曲线比较得到所述场效应管的阈值电压漂移值。本发明减小了测量过程中外加测量信号对场效应管电学特性的影响，能准确地测量场效应管在栅偏压作用下的阈值电压漂

专利类型：发明专利

专利号：CN201110417426.3

专利申请（专利权）人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司

专利发明（设计）人：朱夏明;孙亮;郝昭慧;林承武;邵喜斌

主权项：一种场效应管阈值电压漂移测量方法，其特征在于，在所述场效应管栅极施加恒定栅偏压Vstress一段时间后，不撤去Vstress，对栅极和漏极分别施加测量信号Vgm和Vdm，得到漏极电流?栅极电压转移特性曲线；将所述转移特性曲线与未加栅偏压Vstress时分别对栅极和漏极施加测量信号Vgm和Vdm测得的初始转移特性曲线比较得到所述场效应管的阈值电压漂移值。

专利地区：北京