光学薄膜损伤阈值的测试系统专利登记公告

专利名称：光学薄膜损伤阈值的测试系统

摘要：本发明涉及一种光学薄膜损伤阈值的测试系统。该光学薄膜损伤阈值的测试系统包括一个脉冲激光器、一个衰减片、一个会聚透镜、一个窗口镜、一个分束镜、一个全反镜、一个能量计、一个第一图像采集装置和一个第二图像采集装置，所述激光器输出的光束经过所述衰减片衰减后透射到所述会聚透镜，经过所述会聚透镜会聚后的光束依次经过所述窗口镜、所述分束镜透射并经过所述全反镜反射进入到待测光学薄膜上，经过所述窗口镜反射的光束进入所述第一图像采集装置，经过所述分束镜反射的光束进入所述能量计，所述第二图像采集装置采集所述待测光学薄膜表面的图

专利类型：发明专利

专利号：CN201110418574.7

专利申请（专利权）人：北京国科世纪激光技术有限公司

专利发明（设计）人：樊仲维;朱光

主权项：一种光学薄膜损伤阈值的测试系统，其特征在于，该测试系统包括一个脉冲激光器、一个衰减片、一个会聚透镜、一个窗口镜、一个分束镜、一个全反镜、一个能量计、一个第一图像采集装置和一个第二图像采集装置，所述激光器输出的光束经过所述衰减片衰减后透射到所述会聚透镜，经过所述会聚透镜会聚后的光束依次经过所述窗口镜、所述分束镜透射并经过所述全反镜反射进入到待测光学薄膜上，经过所述窗口镜反射的光束进入所述第一图像采集装置，经过所述分束镜反射的光束进入所述能量计，所述第二图像采集装置采集所述待测光学薄膜表面的图像信息。

专利地区：北京