阵列测试装置专利登记公告

专利名称：阵列测试装置

摘要：本发明公开一种阵列测试装置，所述阵列测试装置的构造为去除在探针引脚按压到玻璃面板的相应电极上时、或在电信号从探针引脚施加至电极时可能产生的颗粒。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110420099.7

专利申请（专利权）人：塔工程有限公司

专利发明（设计）人：朴廷喜

主权项：一种阵列测试装置，包括：探针组件，所述探针组件安装在用于支撑所述探针组件的探针组件支撑框架上，其中：所述探针组件上设置有探针棒，所述探针棒设置有将电信号施加至玻璃面板的电极的探针引脚；以及在所述探针棒的预定侧面上设置有颗粒去除单元，所述颗粒去除单元去除所述探针引脚与所述玻璃面板的电极之间产生的颗粒。

专利地区：韩国

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