采样电路专利登记公告

专利名称：采样电路

摘要：本发明公开了采样电路。一种集成电路包括：采样端子，用于将集成电路连接到外部电容；采样装置，可操作地被连接到该端子以获取样本，每个样本具有样本值；以及控制装置，在外部电容被连接到采样端子时，控制装置被配置为：在内部将采样端子或者集成电路中也与外部电容相连的另一端子连接到给定电压电位源以实现存储在外部电容上的电荷的改变，给定电压电位源在集成电路被使用时在集成电路中可用；使得采样装置在外部电容跟随电荷的改变和/或在电荷的改变期间充电或放电的时段中获取多个样本；以及依据多个样本来判断事件是否发生。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110424146.5

专利申请（专利权）人：富士通半导体股份有限公司

专利发明（设计）人：克里斯坦·哈德斯;沃尔夫·弗洛纳尔;少云·程;马卡斯·沃格特;德里克·费希尔

主权项：一种集成电路，包括：采样端子，用于将所述集成电路连接到外部电容；采样装置，可操作地被连接到所述端子以获取样本，每个样本具有样本值；以及控制装置，在所述外部电容被连接到所述采样端子时，所述控制装置被配置为：在内部将所述采样端子或者所述集成电路中也与所述外部电容相连的另一端子连接到给定电压电位源以实现存储在所述外部电容上的电荷的改变，所述给定电压电位源在所述集成电路被使用时在所述集成电路中可用；使得所述采样装置在所述外部电容跟随所述电荷的改变和/或在所述电荷的改变期间充电或放电的时段中获取多个样本；以及依据所

专利地区：日本