矩阵衬底、检测设备、检测系统和驱动检测设备的方法专利登记公告

专利名称：矩阵衬底、检测设备、检测系统和驱动检测设备的方法

摘要：本申请涉及矩阵衬底、检测设备、检测系统和驱动检测设备的方法。提供一种矩阵衬底，所述矩阵衬底实现高操作速度和高可靠性，并能够在连接端子数量有限的同时获得高质量图像。所述矩阵衬底包括按矩阵布置的像素、在列方向上布置的N个驱动线、P个连接端子和解复用器，其中，P小于N，所述解复用器设置在连接端子与驱动线之间并包括第一多晶半导体TFT和第一连接端子。所述解复用器还包括在连接端子之一与驱动线中的两个或更多个之间的第二多晶半导体TFT和第二控制线，第二控制线用于使驱动线保持具有使像素处于非选择状态的非选择电压。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110424534.3

专利申请（专利权）人：佳能株式会社

专利发明（设计）人：望月千织;渡边实;横山启吾;大藤将人;川锅润;藤吉健太郎;和山弘

主权项：一种矩阵衬底，包括：多个像素，所述多个像素按矩阵布置；多个驱动线，所述多个驱动线在列方向上布置，所述多个驱动线中的每个驱动线在行方向上与多个像素共同连接；多个连接端子，所述多个连接端子被配置为将驱动所述像素的驱动电路和所述驱动线彼此连接，所述多个连接端子的数量比所述驱动线的数量少；和解复用器，所述解复用器被配置为包括多个第一多晶半导体薄膜晶体管，并包括第一控制线，所述多个第一多晶半导体薄膜晶体管布置在所述连接端子与所述驱动线之间，以一对一的方式与所述驱动线对应，并将使所述像素处于选择状态的第一电压供给所述

专利地区：日本