存储器件及其测试方法专利登记公告
专利名称:存储器件及其测试方法
摘要:本发明提供一种存储器件,包括:第一存储体、第二存储体、多个接口焊盘和数据输出单元,数据输出单元被配置成经由所述多个接口焊盘之中的至少一个接口焊盘输出第一存储体的压缩数据,且随后经由所述一个接口焊盘输出第二存储体的压缩数据。
专利类型:发明专利
专利号:CN201110434860.2
专利申请(专利权)人:海力士半导体有限公司
专利发明(设计)人:李康悦
主权项:一种存储器件,包括:第一存储体;第二存储体;多个接口焊盘;以及数据输出单元,所述数据输出单元被配置成经由所述多个接口焊盘之中的一个接口焊盘输出所述第一存储体的压缩数据,且随后经由所述一个接口焊盘输出所述第二存储体的压缩数据。
专利地区:韩国
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