用于放射性物质检测和X光辐射成像的集成系统专利登记公告

专利名称：用于放射性物质检测和X光辐射成像的集成系统

摘要：本发明涉及放射性物质探测和X光辐射成像领域，提供了一种用于在同一地点进行对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的集成系统，解决了现有技术中两种检测必须分开进行的技术问题。本发明中的集成系统包括：X光检测设备，用于对被检物体进行X光辐射成像检查；放射性物质监测设备，用于检测所述被检物体发出的放射性射线；以及用于阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备的装置。本发明实现了两种检测的紧凑集成，大大节约了空间、时间资源，避免了由于在放射性物质监测设备和X光检测设备之间不断运送货品导致的人力、物力上的浪费。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110435104.1

专利申请（专利权）人：同方威视技术股份有限公司

专利发明（设计）人：阮明;蒲中奇;赵崑;吕君;王小兵;贺宇

主权项：?一种用于对被检物体进行放射性物质探测和X光辐射成像的方法，所述方法包括：利用X光检测设备，对被检物体进行X光辐射成像检查；利用放射性物质监测设备，检测所述被检物体发出的放射性射线；其特征在于，该方法还包括：阻挡X光辐射到达所述放射性物质监测设备。

专利地区：北京