基于MPPC光子计数统计的激光外差装置专利登记公告

专利名称：基于MPPC光子计数统计的激光外差装置

摘要：基于MPPC光子计数统计的激光外差装置，涉及激光主动探测研究领域，它解决现有激光外差探测中光源功率和相干相相矛盾的问题，本装置所述的激光器发出光束经激光分束镜后发生反射和透射，反射光束经声光调制器发生声光衍射后入射至偏振分光平片，经偏振分光平片后的光束反射至激光耦合透镜；透射光束经激光扩束镜后入射至旋转漫反射目标表面，被激光回波接收望远镜收集的回波光子经过光学窄带滤波器进行滤波处理，经偏振分光平片后的光束透射至激光耦合透镜；光束聚焦到MPPC光子计数器表面并发生光学干涉后的电信号由信号接收装置接收。所述的

专利类型：发明专利

专利号：CN201110439164.0

专利申请（专利权）人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

专利发明（设计）人：张合勇;赵帅;王挺峰;郭劲;刘立生

主权项：基于MPPC光子计数统计的激光外差的装置，该装置包括激光器(1)、激光分束镜(2)、激光扩束镜(3)、旋转漫反射目标(4)、激光回波接收望远镜(15)、光学窄带滤波器(16)、激光耦合透镜(19)、声光调制器(8)、偏振分光平片(17)和信号接收装置，其特征是，所述激光器(1)发出光束经激光分束镜(2)后发生反射和透射，其中反射光束经声光调制器(8)发生声光衍射后入射至偏振分光平片(17)，经偏振分光平片(17)后的光束反射至激光耦合透镜(19)；透射光束经激光扩束镜(3)后入射至旋转漫反射目标(4)表面

专利地区：吉林