一种自校准高精度微波测量夹具及校准方法专利登记公告

专利名称：一种自校准高精度微波测量夹具及校准方法

摘要：本发明提供了一种微波元件的自校准高精度微波测量夹具及校准方法，该测量夹具有一个基座单元，所述基座单元上安装有连接单元、固定单元、测量单元、压紧单元；所述的连接单元和测量单元可以在基座单元上移动；所述的固定单元包括固定座、同轴连接器，所述的固定单元固定于所述的基座单元的安装座的左凸台上，所述的测量单元包括测量单元座、微带电路板、载片以及锁孔，所述的连接单元包括连接单元座、同轴连接器、丝杆、旋转手柄。本发明的测量夹具操作方便，适用性广，采用压接的方式固定被测微波元件，不需要另外的固定或者焊接，保证了被测微波元

专利类型：发明专利

专利号：CN201110440206.2

专利申请（专利权）人：北京中微普业科技有限公司

专利发明（设计）人：刘强;胡华

主权项：一种自校准高精度微波测量夹具，有一个基座单元，其特征在于：所述基座单元上安装有连接单元、固定单元、测量单元、压紧单元；所述的连接单元和测量单元可以在基座单元上移动；所述的基座单元上有一个安装座；所述的安装座中部有一矩形凹槽，所述的矩形凹槽内部水平设置有两条滑轨，在所述的安装座的左部设置有左凸台，在所述的安装座的右部设置有夹紧螺纹孔；所述的固定单元包括固定座、同轴连接器，所述的固定单元固定于所述的基座单元的安装座的左凸台上，所述的同轴连接器安装在所述固定座中部，所述的同轴连接器一端延伸出所述固定座的外表面，

专利地区：北京