用于测量试件壁厚的电磁超声传感器及其测量方法专利登记公告

专利名称：用于测量试件壁厚的电磁超声传感器及其测量方法

摘要：本发明公开了一种用于测量试件壁厚的电磁超声传感器及其测量方法，该传感器包括：上壳体；与上壳体相互对接组合且其底部具有二级阶梯孔的下壳体；设置在下壳体底部最深的阶梯孔内的激励平面线圈；设置在下壳体底部次深的阶梯孔内并与所述激励平面线圈同轴层叠的接收平面线圈；依次设置在接收平面线圈上的屏蔽层和磁铁件；以及安装在上壳体上通过绝缘导线分别与两个平面线圈相连、用于连接测厚仪相连以便执行对试件壁厚的测量的接头。通过上述设计的双线圈及其他元件的布置，使得两个平面线圈在空间上不再相互干涉，使得传感器具有高激励效率、高接收

专利类型：发明专利

专利号：CN201110444492.X

专利申请（专利权）人：华中科技大学

专利发明（设计）人：武新军;丁旭

主权项：一种用于测量试件壁厚的电磁超声传感器，该电磁超声传感器包括：上壳体；下壳体，该下壳体与上壳体相互对接组合，且其底部具有二级阶梯孔；激励平面线圈，该激励平面线圈设置在下壳体底部最深的阶梯孔内，用于在放置于下壳体下方的试件内产生涡流；接收平面线圈，该接收平面线圈设置在下壳体底部次深的阶梯孔内并与所述激励平面线圈同轴层叠，用于感应试件中涡流产生的磁场变化并输出电信号；屏蔽层，该屏蔽层设置在所述接收平面线圈上，用于屏蔽所述激励平面线圈上部的电磁场；磁铁件，该磁铁件设置在所述屏蔽层上，用于产生垂直于试件表面的偏置磁

专利地区：湖北