用于确定介质的测量变量、特别是用于浊度测量的方法专利登记公告

专利名称：用于确定介质的测量变量、特别是用于浊度测量的方法

摘要：本发明涉及用于确定介质的测量变量、特别是用于浊度测量的方法，该方法通过具有至少一个发射机(S)和至少一个接收机(E)的光学传感器设备(1)确定介质(M)的测量变量的测量值，包括下述步骤：-向至少一个发射机(S)提供激励器信号，该激励器信号用于生成具有传输信号强度的光发射机信号(2)，其中该发射机信号(2)通过与作为测量变量的函数的该介质的相互作用转换为改变的发射机信号(3)；-通过至少一个接收机从变换的发射机信号生成接收机信号，并记录该接收机信号强度；-基于记录的接收机信号，使激励信号强度达到预定的接收机

专利类型：发明专利

专利号：CN201110447101.X

专利申请（专利权）人：恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司

专利发明（设计）人：埃丹·安杰利奇;卡尔斯滕·戈茨;马蒂亚斯·格罗斯曼

主权项：一种借助光学传感器设备确定介质(M)的测量变量的测量值，特别是用于液态或气态介质中的浊度测量的方法，所述光学传感器设备具有至少一个发射机(S)和与所述发射机(S)相关联的至少一个接收机(E)，所述方法包括下述步骤：?向所述至少一个发射机(S)提供激励器信号，所述激励器信号用于生成具有传输信号强度的光发射机信号(2)，其中所述发射机信号(2)通过与作为所述测量变量的函数的所述介质(M)的相互作用而转换为改变的发射机信号(3)；?借助所述至少一个接收机根据所述变换的发射机信号(3)生成接收机信号，并记录所述接

专利地区：德国