软件缺陷严重级别测定方法专利登记公告

专利名称：软件缺陷严重级别测定方法

摘要：本发明提供一种软件缺陷严重级别测定方法，其包括如下步骤：步骤1、操作者通过网络发出软件质量缺陷的测定请求；步骤2、测定终端响应测定请求；步骤3、运行软件质量缺陷测定模块；步骤4、分别选择一量化值赋值给相对应的软件质量缺陷测定标准变量，从而使得所述软件质量缺陷测定标准变量分别具有一量化值；步骤5、判定所有软件质量缺陷测定标准变量是否都具有一量化值，如果否，则报警并给予提示，如果是，则执行下一步骤；步骤6、计算出软件质量缺陷变量的量化值；步骤7、根据软件质量缺陷变量的量化值判定软件缺陷严重级别；步骤8、释放软

专利类型：发明专利

专利号：CN201110448608.7

专利申请（专利权）人：深圳天源迪科信息技术股份有限公司

专利发明（设计）人：李云龙;汪东升;胡伶俐;马晓鹏;李先坤

主权项：一种软件缺陷严重级别测定方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、操作者通过网络发出软件质量缺陷的测定请求；步骤2、测定终端响应测定请求；步骤3、运行软件质量缺陷测定模块，该步骤3包括：步骤3.1、定义软件质量缺陷变量、软件质量缺陷测定标准变量、及各软件质量缺陷测定标准的维度变量，所述软件质量缺陷测定标准变量包括：影响度变量、频度变量、感知难易度变量及修复难易度变量；步骤3.2、将各维度变量的值进行量化；步骤4、分别选择一量化值赋值给相对应的软件质量缺陷测定标准变量，从而使得所述软件质量缺陷测定标准变量分别

专利地区：广东