一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置专利登记公告

专利名称：一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置

摘要：本发明涉及一种电信卡密码覆膜性能的测定、评价方法及其装置，属于电信卡密码覆膜去除技术领域，该方法包括以下步骤：设置实验参数；测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的一组实验数据；并更换同一类别新电信卡，得到在相同参数的三组实验数据；改变划擦载荷值，得到多组实验数据；依次更换另一种待测电信卡，得到每种待测电信卡的多组实验数据；制作每种待测电信卡密码覆膜有效去除面积比数与划擦载荷的关系曲线，对比各测试载荷下待测电信卡的有效去除面积比数，筛选出相同具有较好密码覆膜性能的电信卡。本发明可用于确立电信卡密码覆膜层的

专利类型：发明专利

专利号：CN201110452020.9

专利申请（专利权）人：联通兴业通信技术有限公司;清华大学

专利发明（设计）人：张向军;李红;颜浩;覃珊;李晨光;卢丽敏

主权项：一种电信卡密码覆膜有效去除及其性能评定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：(1)设置实验参数：设置待测电信卡的起始位置、结束位置、运行速度，以及划擦载荷值；(2)在预定的运行速度和载荷条件下对使电信卡进行刮膜实验，测得电信卡密码覆膜在该速度和划擦载荷下的一组实验数据(密码覆膜的去除宽度和去除长度)；(3)更换同一类别新电信卡，重复上述步骤(2)二次，得到在相同运行速度和划擦载荷下电信卡密码覆膜去除的三组实验数据；(4)改变划擦载荷值，重复上述中的步骤(2)、(3)，得到不同划擦载荷下多组实验数据；(5)

专利地区：北京