一种三轴微型陀螺仪的测试装置及测试方法专利登记公告
专利名称:一种三轴微型陀螺仪的测试装置及测试方法
摘要:本发明公开了一种三轴微型陀螺仪的测试装置及测试方法,前者包括测试组件和带动测试组件转动的驱动件,驱动件的转轴与测试组件的用于安装待测试三轴微型陀螺仪的测试平面间的夹角为α,α大于0度小于90度,其测试方法为将三轴微型陀螺仪安装于测试平面上,使其z轴与测试平面垂直,x轴和y轴与测试平面平行;使驱动件带动测试组件以角速度ω转动;读取三轴微型陀螺仪分别在z轴、x轴和y轴上输出的角速度ωz、ωx和ωy;判断角速度ωz、ωx和ωy是否分别等于ωsinα、ωcosαcosγ和ωcosαsinγ?采用本发明的测试装置及
专利类型:发明专利
专利号:CN201110453332.1
专利申请(专利权)人:深迪半导体(上海)有限公司
专利发明(设计)人:金魏新
主权项:一种三轴微型陀螺仪的测试装置,其特征在于,包括测试组件和带动测试组件转动的驱动件,所述驱动件的转轴与测试组件的用于安装待测试三轴微型陀螺仪的测试平面间的夹角为α,所述α大于0度小于90度。
专利地区:上海
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