微粒检测设备专利登记公告

专利名称：微粒检测设备

摘要：本发明公开了一种微粒检测设备。微粒检测设备包括：发光的光学元件；会聚光学系统，沿从光学元件发射的光的前进方向设置，以会聚光；微粒路径，沿已经经过会聚光学系统的光的前进方向定位，以使微粒路径与光交叉；光束阻挡单元，阻挡已经经过微粒路径的直接光；会聚透镜，设置在光束阻挡单元的后方；检测器，设置在会聚透镜的后方，以检测被微粒散射的光。由光学元件和会聚光学系统形成的光的焦点可位于微粒路径的后方。照射到微粒的光的焦点可以与微粒的引入位置不同。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110461361.2

专利申请（专利权）人：三星电子株式会社;韩国科学技术院

专利发明（设计）人：权俊亨;尹斗燮;卢禧烈;金秀铉;柳成润;权元植;李侠

主权项：一种微粒检测设备，包括：发光的光学元件；会聚光学系统，沿从光学元件发射的光的前进方向设置，以会聚光；微粒路径，沿已经经过会聚光学系统的光的前进方向定位，从而微粒路径与光交叉；光束阻挡单元，阻挡已经经过微粒路径的直接光；会聚透镜，设置在光束阻挡单元的后方；检测器，设置在会聚透镜的后方，以检测被微粒散射的光，其中，由光学元件和会聚光学系统形成的光的焦点位于微粒路径的后方。

专利地区：韩国