一种光谱分析仪和光谱分析方法专利登记公告

专利名称：一种光谱分析仪和光谱分析方法

摘要：本发明涉及一种光谱分析仪，包括：光源，所述光源发出测量光；光采集单元，所述光采集单元将测量光耦合至分光单元；分光单元，所述分光单元包括第一分光模块和第二分光模块，测量光经所述第一分光模块X方向分光后被所述第二分光模块进行相同方向的分光；成像单元和探测单元，所述测量光经过所述第二分光模块分光后再被成像单元成像后被探测单元接收；处理单元，所述处理单元处理探测单元接收到的信号，得到窄波段对应的谱图。本发明还提供了一种光谱分析方法。本发明具有窄波段光谱分辨率高的优点。

专利类型：发明专利

专利号：CN201110461548.2

专利申请（专利权）人：聚光科技(杭州)股份有限公司

专利发明（设计）人：俞晓峰;顾海涛;吕全超;李萍;俞大海;王健

主权项：一种光谱分析仪，包括：光源，所述光源发出测量光；光采集单元，所述光采集单元将测量光耦合至分光单元；分光单元，所述分光单元包括第一分光模块和第二分光模块，测量光经所述第一分光模块X方向分光后被所述第二分光模块进行相同方向的分光；成像单元和探测单元，所述测量光经过所述第二分光模块分光后再被成像单元成像后被探测单元接收；处理单元，所述处理单元处理探测单元接收到的信号，得到窄波段对应的谱图。

专利地区：浙江