通过反射功率测量监测雷达测高仪天线性能专利登记公告

专利名称：通过反射功率测量监测雷达测高仪天线性能

摘要：提供了通过反射功率测量来监测雷达测高仪天线性能的系统和方法。在一个实施例中，单天线雷达测高仪包括：天线；与该天线耦合的循环器；与该循环器耦合的发射机；与该循环器耦合的接收机；其中该循环器在该发射机和该接收机之间提供隔离的同时，提供该发射机和该接收机到该天线的耦合；被置于该循环器和接收机之间的反射功率监测仪；以及通过第一模数转换器与该反射功率监测仪耦合的处理器，该处理器被配置成根据该反射功率监测仪产生的数据来计算和跟踪反射功率测量统计并提供性能输出，该性能输出指明该反射功率测量统计中的一个或多个何时超出预定

专利类型：发明专利

专利号：CN201110462510.7

专利申请（专利权）人：霍尼韦尔国际公司

专利发明（设计）人：D·C·瓦肯蒂;A·H·卢克

主权项：一种用于确定雷达测高仪天线性能的方法，该方法包括：测量来自单天线雷达测高仪(100)的天线(150)的反射功率；根据来自天线(150)的反射功率来计算和跟踪反射功率测量统计；评估反射功率测量统计中的变化，以识别静态事件故障情况；当识别出静态事件故障情况时，提供故障告警(FW)过载响应；评估反射功率测量统计中的变化，以识别动态事件故障情况；以及当识别出动态事件故障情况时，提供无计算数据(NCD)过载响应。

专利地区：美国