射线双壁双影椭圆成像透照专用尺专利登记公告

专利名称：射线双壁双影椭圆成像透照专用尺

摘要：一种射线双壁双影椭圆成像透照专用尺。其包括轴向尺、垂直尺、摆动尺和调节尺；轴向尺中部一侧形成有凹槽；垂直尺与轴向尺相垂直设置，下端固定在轴向尺上凹槽边缘处，且与凹槽开口方向相反，垂直尺上标有刻度；摆动尺下端铰接在垂直尺下端，上部能以铰接点为轴在轴向尺和垂直尺所在的平面内摆动；调节尺一端以能沿垂直尺长度方向移动方式安装在垂直尺上，中部以能沿摆动尺长度方向移动的方式连接在摆动尺上，并且调节尺上标有刻度。本实用新型的射线双壁双影椭圆成像透照专用尺能根据管径及环向焊缝宽度直接确定出射线机摆放位置，且保证一次成功，这样不仅能大幅度减少操作人员劳动强度，节省操作时间，而且适用于多种不同管径及壁厚的小径管。

专利类型：实用新型专利

专利号：CN201120332084.0

专利申请（专利权）人：天津市天欧检测技术有限公司

专利发明（设计）人：段绍婷;胡秉全

主权项：一种射线双壁双影椭圆成像透照专用尺，其特征在于：所述的射线双壁双影椭圆成像透照专用尺包括轴向尺(C)、垂直尺(A)、摆动尺(B)和调节尺(E)；其中轴向尺(C)的中部一侧形成有一个凹槽(G)；垂直尺(A)与轴向尺(C)相垂直设置，其下端固定在轴向尺(C)上凹槽(G)的边缘处，并且与凹槽(G)的开口方向相反，同时垂直尺(A)上标有刻度；摆动尺(B)的下端铰接在垂直尺(A)的下端，上部能够以铰接点为轴在轴向尺(C)和垂直尺(A)所在的平面内摆动；调节尺(E)的一端以能够沿垂直尺(A)长度方向移动的方式安装在垂直尺(A)上，中部以能够沿摆动尺(B)长度方向移动的方式连接在摆动尺(B)上，并且调节尺(E)上标有刻度。

专利地区：天津