挠性的电容式传感器数组专利登记公告

专利名称：挠性的电容式传感器数组

摘要：一种用于检测施加至一电容式传感器数组的力并且补偿由于力所造成的坐标不正确的方法包含从所述电容式传感器数组接收多个电容测量，其中所述多个电容测量包含一第一电容测量以及一第二电容测量，以及根据一在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的比较来检测在所述电容式传感器数组上的压力。

专利类型：发明专利

专利号：CN201180002806.9

专利申请（专利权）人：赛普拉斯半导体公司

专利发明（设计）人：马绍·巴达耶;葛瑞格·兰德利

主权项：一种方法，其包括：从一电容式传感器数组接收多个电容测量，其中所述多个电容测量包含至少一第一电容测量以及一第二电容测量；以及根据在所述第一电容测量以及所述第二电容测量之间的一比较来检测所述电容式传感器数组的变形。

专利地区：美国