用于测序聚合物的受控的隧道间隙设备专利登记公告

专利名称：用于测序聚合物的受控的隧道间隙设备

摘要：本发明包括了用于分析聚合物和/或聚合物单元的组合物、设备和方法。所述聚合物可以是同型-或异型聚合物，例如，DNA、RNA、多糖或肽。所述设备包括电极，所述电极形成聚合物可以穿过的隧道缺口。电极用附着于其上的试剂来功能化，所述试剂能够与聚合物单元形成短暂的键。当在试剂和单元之间形成短暂的键时，产生可检测信号，用于分析聚合物。

专利类型：发明专利

专利号：CN201180004174.X

专利申请（专利权）人：阿利桑那卅评议会

专利发明（设计）人：S.林赛;S.常;J.何;P.张;S.黄

主权项：一种用于分析聚合物的设备，所述设备包括（a）第一和第二电极，它们形成所述聚合物可以穿过的隧道间隙；和（b）附着到所述第一电极的第一试剂和附着到所述第二电极的第二试剂，其中所述第一和第二试剂各自能够与聚合物的单元形成瞬时的键，其中当瞬时的键形成时产生可检测信号。

专利地区：美国