物体检测装置及信息取得装置专利登记公告

专利名称：物体检测装置及信息取得装置

摘要：本发明公开一种即使激光的点图案因衍射光学元件的形状、位置及激光的波长等而变化，也能够适当地检测到检测对象物体的距离的信息取得装置及搭载该信息取得装置的物体检测装置。信息取得装置(1)具有：射出波长为830nm左右的激光的激光光源(111)；将激光朝向所述目标区域投射的投射光学系统(11)；对来自所述目标区域的反射光进行受光并输出信号的CMOS图像传感器(124)；保持基准样板的存储器(25)，该基准样板通过将由CMOS图像传感器(124)所受光的光的基准图案利用呈矩阵状排列的基准分段区域划分而成；更新基准

专利类型：发明专利

专利号：CN201180005133.2

专利申请（专利权）人：三洋电机株式会社

专利发明（设计）人：森本高明;楳田胜美

主权项：一种信息取得装置，利用光来取得目标区域的信息，其特征在于，具有：光源，其射出规定波段的光；投射光学系统，其将从所述光源射出的光以规定的点图案朝向所述目标区域投射；受光元件，其对从所述目标区域反射的反射光进行受光并输出信号；存储部，其对在由所述受光元件所受光的所述光的基准图案中设定有多个基准分段区域的基准样板进行存储；更新部，其对所述基准样板进行更新，所述更新部根据在所述基准样板中设定的参照分段区域的实测时的位移，来更新所述基准样板。

专利地区：日本