分子结构和功能的测定方法专利登记公告
专利名称:分子结构和功能的测定方法
摘要:本发明描述测量细胞膜或脂双层的转运性质的方法,包括至少提供具有顶面和背面和多个纳米孔或微孔的基底和从细胞膜的两面均可进入以供测量的覆盖所述多个孔隙的细胞膜、位于基底顶面或背面上的至少在孔隙区域中的材料层以在孔隙处支承该细胞膜但不阻碍穿过该细胞膜和孔隙转运,将含有至少一种分子的流体施加至该膜的顶面以使该分子或离子穿过该膜、孔隙之一和该材料层移动;和使用光学检测法监测已穿过该材料层的分子。本发明能够监测长效被动扩散过程或对功能膜转运蛋白的动力学和毒理学研究。
专利类型:发明专利
专利号:CN201210003078.X
专利申请(专利权)人:阿克塞特里斯股份公司
专利发明(设计)人:J.弗勒斯;M.D.贝拉尔迪诺;K.苏基哈拉;T.扎贝利
主权项:测量细胞膜或脂双层的转运性质的方法,包括提供芯片(1),其至少具有具有顶面和背面和至少一个纳米孔或微孔(3)的基底(2)和覆盖所述至少一个孔(3)的膜(4);至少在所述至少一个孔(3)的区域中提供材料层(6)以在所述至少一个孔(3)处支承该膜(4)以允许穿过该膜(4)和所述至少一个孔(3)转运;将含有至少一种分子(5)或离子的流体(8)施加至该膜(4)的顶面以使该分子(5)或离子穿过该膜(4)、至少一个孔(3)和该材料层(6)移动;和通过使用光学检测法监测已穿过该材料层(6)的该分子(5)或离子。
专利地区:瑞士
关于上述专利公告申明 : 上述专利公告转载自国家知识产权局网站专利公告栏目,不代表该专利由我公司代理取得,上述专利权利属于专利权人,未经(专利权人)许可,擅自商用是侵权行为。如您希望使用该专利,请搜索专利权人联系方式,获得专利权人的授权许可。