一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法专利登记公告

专利名称：一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法

摘要：本申请提供了一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法，以解决现有技术中基于余数校验的容错滤波处理方法中的故障漏检问题。本申请中当第一支路滤波输出和第二支路滤波输出不相等，但两条支路滤波输出取余后的数据相等，无法通过单次采样判断出故障支路时，可将数据暂时保存在缓存中，继续处理其他数据，经过滤波结果的多次判决。直到第一支路和第二支路滤波输出取余后的数据中的一个与基准数据不相等为止，是一种多采样判决方法，此时可以判断出哪条支路出现了故障，哪条支路的处理结果是正确的，不会出现故障漏检的问题。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210003941.1

专利申请（专利权）人：清华大学

专利发明（设计）人：高镇;周世东;赵明;杨文慧;陈翔;王京

主权项：一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法，其特征在于，包括：S11，将采样数据分别输入到第一支路、第二支路和第三支路；S12，第一支路和第二支路的处理步骤包括：将所述采样数据分别进行滤波处理，得到处理后的第一滤波数据和第二滤波数据；将所述第一滤波数据和第二滤波数据分别对m取余，得到对应第一数据和第二数据，其中m为取余的模数，且m为正整数；S13，针对第三支路，将所述采样数据输入基于余数的滤波器中进行滤波处理，得到处理后的基准数据，所述基于余数的滤波器中取余的模数为m；S14，若第一滤波数据和第二滤

专利地区：北京