盆栽水稻表型参数的全自动无损测量系统及测量方法专利登记公告

专利名称：盆栽水稻表型参数的全自动无损测量系统及测量方法

摘要：本发明涉及一种盆栽水稻表型参数全自动无损高通量的测量系统及测量方法，本发明由可编程控制器控制，输送线输送盆栽水稻，采用X射线成像系统拍摄水稻断层图像，三维可见光成像系统拍摄可见光图像，由工作站对所得图像进行处理，得到水稻各项参数。本发明首次提出并实现X射线断层扫描成像测定水稻分蘖数的新方法，将提取各个参数集成到一套系统中，成功建立第一套全自动、高通量、多参数和高精度的盆栽水稻表型参数自动提取系统。

专利类型：发明专利

专利号：CN201210006924.3

专利申请（专利权）人：华中科技大学

专利发明（设计）人：刘谦;骆清铭;杨万能;段凌凤;黄成龙;方伟;蒋霓;冯慧

主权项：一种盆栽水稻表型参数的全自动无损测量系统，其特征在于，包括X射线源、X射线探测器、顶视相机、侧视相机、光源、输入端接近开关、检测区对射式光电开关、检测区接近开关，旋转台、盆栽水稻小车、输入端电动门、输出端电动门、输入端输送线、检测区输送线、输出端输送线、铅房、可编程控制器和工作站；所述X射线源与所述X射线探测器分别安装于检测区输送线的两侧，所述顶视相机固定在所述铅房顶部，所述测试相机固定安装于检测区输送线一侧，所述旋转台安装在检测区输送线上，所述输入端电动门和输出端电动门安装在铅房两侧，所述工作站分别与X

专利地区：湖北