基于载波调制原理的多测尺微波相位测距方法专利登记公告

专利名称：基于载波调制原理的多测尺微波相位测距方法

摘要：本发明涉及一种微波测距技术，公开了一种基于载波调制原理的多测尺微波相位测距方法。在被测点处放置微波无源反射器，在测量点处放置微波测距仪。测距信号源先产生主频测距信号经混频、功放后由发射天线发射，反射器将入射到它的微波信号按原路反射回，接收天线接收微波信号，经过低噪放、带通滤波、混频后，鉴相器测出反射和发射信号相位差ΔΦ1；该相位差与所测距离成比例，因而可得距离。该测距范围受主频信号波长限制，虽增大波长可扩大测距范围，但测距精度会降低。为了保证精度并扩大测距范围，信号源再产生辅频测距信号测距，得到相位差ΔΦ

专利类型：发明专利

专利号：CN201210009206.1

专利申请（专利权）人：重庆大学

专利发明（设计）人：陈伟民;郑大青;章鹏;雷小华;李存龙

主权项：基于载波调制原理的多测尺微波相位测距方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：先由测距信号源(3)产生主频测距信号f1，该信号通过测距系统后得到主频测距信号相位差ΔΦ1；S2：再由测距信号源(3)产生辅频测距信号f2，该信号通过测距系统后得到辅频测距信号相位差ΔΦ2；S3：通过以下公式计算所测量距离D：该式的最大可测量范围为?其中，N1为主频测距信号相位移ΔΦ1中周期2π的整数倍，N2为辅频测距信号相位移中ΔΦ2周期2π的整数倍，λ1为主频测距信号f1的波长，即?C为光速，k为辅频f2和主频f1的比例系数，即

专利地区：重庆